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市场 > Metrology > NIKON > NEXIV VMZ-S4540

NEXIV VMZ-S4540

类别
Metrology
概述

Magnification, AF and illumination conditions can be finely adjusted for each sample. Suitable for small components used for products such as mechanical, electric/electronic, automotive, and medical devices.

活动的上架物品

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服务

检验、保险、评估、物流

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