跳至主要内容
市场 > Elipsometry > KLA > ALERIS 8330

ALERIS 8330

概述

The AlerisTM 8330 film metrology system, a targeted solution for production monitoring of the thickness, refractive index and stress of non-critical films at the 32nm node and beyond.

活动的上架物品

0

服务

检验、保险、评估、物流

热门上架物品

    未找到产品
有类似物品吗?
使用 Moov 上架,立即找到完美买家。