说明
无说明配置
无配置OEM 型号描述
LS-5270 particle detection system, 30 wafers per hour, can detect particles on rough films, like CVD tungsten.文件
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HITACHI
LS-5270
类别
Defect Inspection
上次验证： 12 天前
物品主要详细信息
状况：
Used
运行状况:
未知
产品编号：
139481
晶圆尺寸：
未知
年份：
未知
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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