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KLA 1007
    说明
    6” Fully Automatic Wafer Prober, MODEL: 20SR Olympus S240 microscope 6" gold hot chuck Brush needle polish cassette loader Monitor Keyboard
    配置
    Wafer Prober
    OEM 型号描述
    Defect Inspection
    文件

    无文件

    KLA

    1007

    verified-listing-icon

    已验证

    类别
    Defect Inspection

    上次验证： 60 多天前

    物品主要详细信息
    状况：

    Used

    运行状况:

    未知

    产品编号：

    77332

    晶圆尺寸：

    6"/150mm

    年份：

    未知

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    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
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    KLA 1007

    KLA

    1007

    Defect Inspection
    年份： 0状况： 二手
    上次验证60 多天前
    KLA 1007

    KLA

    1007

    Defect Inspection
    年份： 0状况： 二手
    上次验证22 天前
    KLA 1007

    KLA

    1007

    Defect Inspection
    年份： 0状况： 二手
    上次验证22 天前
    KLA 1007

    KLA

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    Defect Inspection
    年份： 1997状况： 二手
    上次验证22 天前

    KLA

    1007

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    已验证
    类别
    Defect Inspection
    上次验证： 60 多天前
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    物品主要详细信息
    状况：

    Used

    运行状况:

    未知

    产品编号：

    77332

    晶圆尺寸：

    6"/150mm

    年份：

    未知

    Logistics Support
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    Available
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    Available
    说明
    6” Fully Automatic Wafer Prober, MODEL: 20SR Olympus S240 microscope 6" gold hot chuck Brush needle polish cassette loader Monitor Keyboard
    配置
    Wafer Prober
    OEM 型号描述
    Defect Inspection
    文件

    无文件

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    Defect Inspection年份： 0状况： 二手上次验证： 60 多天前
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    Defect Inspection年份： 0状况： 二手上次验证： 22 天前
    KLA 1007

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    Defect Inspection年份： 0状况： 二手上次验证： 22 天前
    KLA 1007

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    1007

    Defect Inspection年份： 1997状况： 二手上次验证： 22 天前