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ONTO / RUDOLPH / AUGUST WaferView 320
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    Macro Defect Inspection System
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    ONTO / RUDOLPH / AUGUST

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    类别
    Defect Inspection

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    物品主要详细信息
    状况：

    Used

    运行状况:

    未知

    产品编号：

    117089

    晶圆尺寸：

    12"/300mm

    年份：

    未知

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    年份： 2006状况： 二手
    上次验证60 多天前
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    年份： 2007状况： 二手
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