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OLYMPUS FR3200
    说明
    Industrial-grade semiconductor wafer inspection microscope system
    配置
    无配置
    OEM 型号描述
    未提供
    文件

    无文件

    OLYMPUS

    FR3200

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    已验证

    类别
    Defect Inspection

    上次验证： 5 天前

    物品主要详细信息
    状况：

    Used

    运行状况:

    未知

    产品编号：

    148289

    晶圆尺寸：

    未知

    年份：

    未知

    Logistics Support
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
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    OLYMPUS FR3200

    OLYMPUS

    FR3200

    Defect Inspection
    年份： 0状况： 二手
    上次验证5 天前
    OLYMPUS FR3200

    OLYMPUS

    FR3200

    Defect Inspection
    年份： 2002状况： 二手
    上次验证60 多天前

    OLYMPUS

    FR3200

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    已验证
    类别
    Defect Inspection
    上次验证： 5 天前
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    物品主要详细信息
    状况：

    Used

    运行状况:

    未知

    产品编号：

    148289

    晶圆尺寸：

    未知

    年份：

    未知

    Logistics Support
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    说明
    Industrial-grade semiconductor wafer inspection microscope system
    配置
    无配置
    OEM 型号描述
    未提供
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    Defect Inspection年份： 0状况： 二手上次验证：5 天前
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    Defect Inspection年份： 2002状况： 二手上次验证：60 多天前