说明
Wafer Tester Dimensions: Standard Metric Overall: 1 x 1 x 1 IN - 1 LBS25.40 x 25.40 x 25.40 mm - 0.45 kg配置
无配置OEM 型号描述
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SEMILAB
WT-2000
类别
Defect Inspection
上次验证： 5 天前
物品主要详细信息
状况：
Used
运行状况:
未知
产品编号：
150737
晶圆尺寸：
未知
年份：
未知
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
说明
Wafer Tester Dimensions: Standard Metric Overall: 1 x 1 x 1 IN - 1 LBS25.40 x 25.40 x 25.40 mm - 0.45 kg配置
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