说明
无说明配置
无配置OEM 型号描述
The TMAP NST is a non contact full field metrology solution based on optical microscopy enabling surface topography measurements at the nano scale.文件
无文件
类别
Defect Inspection
上次验证： 60 多天前
物品主要详细信息
状况：
Used
运行状况:
未知
产品编号：
105930
晶圆尺寸：
未知
年份：
未知
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
UNITY SEMICONDUCTOR / HSEB
TMAP-NST
类别
Defect Inspection
上次验证： 60 多天前
物品主要详细信息
状况：
Used
运行状况:
未知
产品编号：
105930
晶圆尺寸：
未知
年份：
未知
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Available
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Available
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Available
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