说明

Metrology / inspection system

配置

Meas System Automated Wafer Handling (Qty 2) FOUP Factory Interface Process: Wafer Inspection Tool Software Version: TC*1.15.5/10.2.00 CIM: SECS/GEM

OEM 型号描述

未提供

文件

无文件

HSEB / ZEISS

ODIN-A30

已验证

类别

Defect Inspection

上次验证： 6 天前

物品主要详细信息

状况：

Used

运行状况:

未知

产品编号：

154827

晶圆尺寸：

12"/300mm

年份：

2012

Logistics Support

Available

Transaction Insured by Moov

Available

Refurbishment Services

Available

类似上架物品

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HSEB / ZEISS

ODIN-A30

Defect Inspection

年份： 2012状况：二手

上次验证6 天前

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ODIN-A30

已验证

类别

Defect Inspection

上次验证： 6 天前

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物品主要详细信息

状况：

Used

运行状况:

未知

产品编号：

154827

晶圆尺寸：

12"/300mm

年份：

2012

Logistics Support

Available

Transaction Insured by Moov

Available

Refurbishment Services

Available

说明

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配置

Meas System Automated Wafer Handling (Qty 2) FOUP Factory Interface Process: Wafer Inspection Tool Software Version: TC*1.15.5/10.2.00 CIM: SECS/GEM

OEM 型号描述

未提供

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Defect Inspection年份： 2012状况：二手上次验证：6 天前