说明
Paticle Measurement配置
Paticle MeasurementOEM 型号描述
未提供文件
无文件
SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO
XV-300DB
已验证
类别
Microscope
上次验证: 60 多天前
物品主要详细信息
状况:
Used
运行状况:
未知
产品编号:
72887
晶圆尺寸:
12"/300mm
年份:
未知
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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XV-300DB
类别
Microscope
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