HUTTINGER / TRUMPF TruPlasma Bipolar DC 4010

说明

TRUMPF TruPlasma Bipolar 4010是針對一系列電子設備的高性能、強大的測試設備。它用於測試多種組件和模塊，從內存設備、邏輯芯片和嵌入式處理器到集成電路、有源組件和電源管理子系統。TruPlasma Bipolar 4010主要使用高壓、低電流（HVLC）等離子體發生器提供非接觸式、無損性測試。它在5 kV至60 kV的範圍內運行，峰值電流為400 A。這使得它可以應用多個電壓狀態來模擬和分析對稱和非對稱元件的電氣行為。這使得它非常適合測試小型和復雜的軟件包,以及模塊和嵌入式系統。TRUMPF TruPlasma Bipolar 4010配備了大量傳感器，包括電壓、電流和溫度傳感器。它還具有幾種軟件控制的安全措施，如脈沖控制、火花閾值和電流限制，以保護樣品免受過壓或過電流的影響。此外，該儀器還包括幾個脈沖成形參數，如脈沖寬度、振幅和雙極特性，有助於微調測試條件。而且TruPlasma Bipolar 4010還包括一個集成反饋回路。這有助於通過自動調整脈沖參數來調節測試條件，以達到最佳測試結果。這樣可以輕松優化測試條件，減少測試時間。最後，TRUMPF TruPlasma Bipolar 4010搭載了一塊大的彩色觸摸屏液晶面板，便於控制測試過程，獲得理想的效果。它還具有許多連接選項,例如USB和以太網端口,以及以太網和無線連接,使其能夠集成到更大的自動化測試系統中。