说明
Wafer and Mask Inspection and Measurement配置
无配置OEM 型号描述
未提供文件
无文件
KLA / VISTEC / LEICA
MIS SP200
已验证
类别
Reticle / Mask Inspection
上次验证： 60 多天前
物品主要详细信息
状况：
Used
运行状况:
未知
产品编号：
41227
晶圆尺寸：
8"/200mm
年份：
1993
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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Reticle / Mask Inspection
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状况：
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