说明
Wafer SEM配置
无配置OEM 型号描述
High-precision 300 mm full-wafer focused ion beam scanning electron microscope文件
无文件
类别
SEM / FIB
上次验证： 14 天前
物品主要详细信息
状况：
Used
运行状况:
未知
产品编号：
152412
晶圆尺寸：
未知
年份：
未知
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
THERMOFISHER SCIENTIFIC / FEI / PHILIPS
Helios 5 EXL
类别
SEM / FIB
上次验证： 14 天前
物品主要详细信息
状况：
Used
运行状况:
未知
产品编号：
152412
晶圆尺寸：
未知
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未知
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