说明
无说明配置
Resolution: 3 nm @ 30kV (SEI), 5 nm @ 30kV (BEI) Sample: 8" max., 125 mm X, 100 mm Y Options:X-SIS, EDS, IR Camera, 8" ChamberOEM 型号描述
未提供文件
无文件
JEOL
JSM 5900LV
已验证
类别
SEM / FIB
上次验证： 60 多天前
物品主要详细信息
状况：
Used
运行状况:
未知
产品编号：
12079
晶圆尺寸：
8"/200mm
年份：
未知
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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