说明
ELECTRON MICROSCOPE配置
无配置OEM 型号描述
SEM Defect Review文件
无文件
JEOL
JWS-2000
已验证
类别
SEM / FIB
上次验证: 60 多天前
物品主要详细信息
状况:
Used
运行状况:
未知
产品编号:
69285
晶圆尺寸:
未知
年份:
2010
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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