说明
Atomic force microscope配置
无配置OEM 型号描述
Powder X-ray diffractometer (XRD) used for crystal phase identification, structure determination, and crystallite size analysis文件
无文件
BRUKER
D500
类别
X-Ray / XRD / XRF
上次验证： 18 天前
物品主要详细信息
状况：
Used
运行状况:
未知
产品编号：
155204
晶圆尺寸：
未知
年份：
未知
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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