说明
无说明配置
无配置OEM 型号描述
Automated X-ray defect inspection and metrology system designed for 300 mm silicon semiconductor wafers文件
无文件
类别
X-Ray / XRD / XRF
上次验证： 昨天
物品主要详细信息
状况：
Used
运行状况:
未知
产品编号：
158707
晶圆尺寸：
未知
年份：
未知
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
BRUKER
JVsensus-600F
类别
X-Ray / XRD / XRF
上次验证： 昨天
物品主要详细信息
状况：
Used
运行状况:
未知
产品编号：
158707
晶圆尺寸：
未知
年份：
未知
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Available
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Available
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