说明
无说明配置
无配置OEM 型号描述
OPTISTATION-3200 wafer inspection system文件
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类别
Defect Inspection
上次验证： 19 天前
物品主要详细信息
状况：
Used
运行状况:
未知
产品编号：
149178
晶圆尺寸：
8"/200mm
年份：
2022
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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NIKON
OPTISTATION-3200
类别
Defect Inspection
上次验证： 19 天前
物品主要详细信息
状况：
Used
运行状况:
未知
产品编号：
149178
晶圆尺寸：
8"/200mm
年份：
2022
Logistics Support
Available
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Available
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