说明
无说明配置
无配置OEM 型号描述
Helios NanoLab 1200 Full Wafer DualBeam Technology for High Resolution Imaging, Analysis and TEM Sample Preparation for 300 mm Wafers文件
无文件
类别
SEM / FIB
上次验证： 17 天前
物品主要详细信息
状况：
Used
运行状况:
未知
产品编号：
138745
晶圆尺寸：
未知
年份：
未知
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
THERMOFISHER SCIENTIFIC / FEI / PHILIPS
HELIOS NANOLAB 1200
类别
SEM / FIB
上次验证： 17 天前
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Used
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未知
产品编号：
138745
晶圆尺寸：
未知
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