说明
无说明配置
WAFER TESTER FOR WAFER THICKNESS INCLUDES LARGE ANVIL STYLE TABLE TO HOLD SMALL OR LARGE SUBSTRATESOEM 型号描述
未提供文件
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类别
Wafer Testing
上次验证： 60 多天前
物品主要详细信息
状况：
Used
运行状况:
未知
产品编号：
83679
晶圆尺寸：
未知
年份：
未知
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
KLA / MICROSENSE
6033
类别
Wafer Testing
上次验证： 60 多天前
物品主要详细信息
状况：
Used
运行状况:
未知
产品编号：
83679
晶圆尺寸：
未知
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未知
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