
说明
No missing parts. With EDX配置
无配置OEM 型号描述
Field Emission Scanning Electron Microscope文件
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S-4800 II
类别
SEM / FIB
上次验证: 60 多天前
物品主要详细信息
状况:
Refurbished
运行状况:
未知
产品编号:
129996
晶圆尺寸:
未知
年份:
2003
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available